画像検査のAI活用事例と画像データ収集のポイント

こちら、日経BPからの転記となります。

 ここ数年、AI(Artificial Intelligence、人工知能)の応用が急速に進展しています。劇的な認識率の向上をもたらしAI分野を発展させたのが、脳の働きからヒントを得た学習手法である「Deep Learning(深層学習)」のアルゴリズムであり、実装が容易なライブラリの登場により、画像認識を中心に様々な実用例が報告されています。

 製造現場でもAI外観検査(画像識別)を中心に導入プロジェクトが立ち上がっていますが、狙った識別精度が得られず、導入に至らない例が散見されます。学習データ(画像データ)の前処理(データクレンジング)にかかる負担や良品・不良品データの不均衡などがおもな原因にあげられます。また、特にDeep Learningでは識別にかかる根拠がわかりにくく、品質保証の観点から導入を見送る現場も多いです。

 そこで、本講座は中小製造現場で導入実績をあげた講師が、自身が手がけたAI外観検査の取り組みを紹介します。活動事例を通じて、AI外観検査の導入プロジェクトの進め方から学習データの質と量の課題、学習を意識した画像情報の集め方、品質保証への対応までを解説します。さらには、導入後の運用を通じての精度向上のための考え方にも触れます。

開催概要

セミナー名Zoomを使ったWeb配信セミナー
画像検査のAI活用事例と画像データ収集のポイント
日時2021年 8月 25日(水) 13:00~17:00
会場オンライン開催
Webセミナープラットフォーム「Zoom」で配信するセミナーです
受講料38,000円(税込み)

※上記は1名様の料金です。複数名での共有は禁止させていただきます。
定員60名
※最少開催人数(15名)に満たない場合は、開催を中止させていただくことがあります。
主催日経クロステック、日経エレクトロニクス

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